華林科納對硅表面的疏水性對HF-last濕化學(xué)處理過程中水跡形成的影響
本研究考察了這些HF最終工藝對干燥后南水標(biāo)記的生成有何影響。?通過對Teflon、SiO2、Silicon分別進(jìn)行適當(dāng)?shù)那逑床襟E,制備了具有親水性和疏水性表面的試樣,然后用動態(tài)接觸角度分析器(DCA)分析了各試樣的接觸性。這樣準(zhǔn)備的每個具有不同接觸性的詩篇上滴下10ul的超純水(18.2M0-cm),然后在30 ℃、N2和O2氣氛中干燥,故意生成了water mark。將生成的水標(biāo)記的大小與接觸角和干燥氣氛相關(guān)聯(lián),進(jìn)行了比較分析。
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清洗后測量的接觸角等于表1,接觸角測定結(jié)果表明,HF處理的硅和Teflon表現(xiàn)出大接觸角的疏水性,SiO2和HF未處理的硅表現(xiàn)出低接觸角的親水性,針對這些不同接觸性的詩篇,將O2和N2中殘留在高敵人詩篇表面的水滴干燥后,在親水性和疏水性的詩篇母豆中產(chǎn)生了water mark,但是,如圖1所示,在初始水滴和水標(biāo)記大小的差異值上,對于其他詩篇,N2和O2的差異值,值為0.2毫米左右,幾乎沒有差異,而HF處理的硅的差異為0.8毫米,可見其表面與O2產(chǎn)生了某種化學(xué)反雄,另一方面,故意將直徑為2.04uma的球形聚天龍顆粒塞進(jìn)水滴內(nèi),觀察水滴照射后這些顆粒的分布情況。??

結(jié)果,疏水性的詩篇將這些粒子密集在一起,形成了一個致密的團(tuán),而在親水性的情況下,這些粒子分布得很廣。分析認(rèn)為,水滴內(nèi)存在的異物根據(jù)表面狀態(tài)(表示不同的接觸性)的不同行為,結(jié)果產(chǎn)生不同方面的水標(biāo)記。
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