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Chroma19301A繞線元件脈沖測(cè)試

2023-11-13 08:40 作者:深圳方豐瑞儀器  | 我要投稿

Chroma 19301A 為繞線組件脈沖測(cè)試器,結(jié)合了高低感量測(cè)試技術(shù)應(yīng)用,擁有1000Vdc脈沖電壓與200MHz高速取樣率,可提供0.1uH~100uH 大范圍感量產(chǎn)品測(cè)試滿足絕大部份功率電感測(cè)試需求, 擁有波形面積比較(AREA SIZE)、 波形面積差比較(DIFFERENTIAL AREA)、波形顫動(dòng)偵測(cè)(FLUTTER)、波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN)、 波峰降比偵測(cè)(ΔPEAK RATIO)/ 波峰比偵測(cè)(PEAK RATIO)及共振波面積比(Δ RESONANT AREA)等判定方法,可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良。 繞線組件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試,而線圈之自體絕緣不良通常是造 成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路之根源。 其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良,或絕緣材料之劣化等所 引起,故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。 主要特點(diǎn) 高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1μH~100μH) 10V~1000V脈沖測(cè)試電壓, 0.25V測(cè)量分辨率 高速測(cè)試快18mS (Pulse 1.0 ; for ACQ) 具備電感測(cè)量接觸檢查功能 具備電感差異電壓補(bǔ)償功能 脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz),10bits 崩潰電壓分析功能 低電壓量測(cè)文件位,提高波形分析靈敏度 (25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V) 繁中/ 簡(jiǎn)中/ 英文操作接口 USB波形儲(chǔ)存與畫面擷取功能 圖形化彩色顯示 標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232 接口 158-18*59=4082?? 135-10*15=2816

Chroma19301A繞線元件脈沖測(cè)試的評(píng)論 (共 條)

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