單通道的2635和雙通道的2636是吉時利2600系列多通道I-V測試解決方案中的最新成員。

具備1fA測量分辨率，吉時利2635和吉時利2636被優(yōu)化用于需要低電流源和測量能力的應(yīng)用，

是您下一代半導體參數(shù)分析和測試系統(tǒng)的理想選擇。同吉時利2600系列的其它型號一樣，每臺尺寸僅為僅半機架，

2U儀器，卻將精密電源、精確電流源、五位半數(shù)字萬用表、電壓或電流脈沖發(fā)生器與測量、低頻任意波形發(fā)生器、電子負載、觸發(fā)控制相結(jié)合。

吉時利2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導體制造商提供了一個靈活的、高效的、極具性價比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測量測試。

基于最初2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測量技術(shù)，吉時利2600系列儀器在I-V測試應(yīng)用中 能夠提供相當于同類產(chǎn)品的二到四倍的測試速度。

它們還具備更高的源測量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。專利的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時間內(nèi) 可同時提供I和V測量值 (10,000 讀數(shù)/s)，

源-測量掃描速度為200μs每點 (5,500 點/s)。這種高速的源-測量能力加上先進的自動化特性及軟件工具使得吉時利2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測試的理想方案。

KEITHLEY2636數(shù)字源表 相關(guān)應(yīng)用:

·半導體器件特性分析、參數(shù)分析、可靠性和晶圓測試

·光電器件、傳感器和分立器件的低電流測試

·研究和教育實驗室應(yīng)用，如材料和電介質(zhì)測試、霍爾效應(yīng)和范德堡測量

·納米科技研究應(yīng)用中的低功率特性分析