HP4145B半導體參數(shù)分析儀設計用于半導體的生產(chǎn)線和實驗室，HP4145B是電子工業(yè)中 個可以獨立對半導體器件和材料進行直流參數(shù)的儀器。 HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將測試結果顯示在內(nèi)置的CRT顯示器上，結果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。 主要特點及優(yōu)點： 在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測驗證與報告，有利于保持高速生產(chǎn)效率 可以通過該儀器的前置面板或通過GPIB遠程控制接觸檢測操作 內(nèi)置的“源存儲器”可編程序列發(fā)生器 多可存儲100個不同的測試，以滿足高速生產(chǎn)的需要 高達75000小時MTBF的可靠性設計，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性 內(nèi)置的比較器簡化了pass/fail測試 數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機械手 0.012%的 度，5?的分辨率 HP4145B簡介: 產(chǎn)品名稱：半導體參數(shù)分析儀 產(chǎn)品型號：HP4145B 產(chǎn)品品牌：美國惠普/HP HP4145B半導體參數(shù)分析儀設計用于半導體的生產(chǎn)線和實驗室 HP4145B是電子工業(yè)中可以獨立對半導體器件和材料進行直流參數(shù)的儀器。 HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將測試結果顯示在內(nèi)置的 CRT顯示器上，結果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。