PLAT350 Type_3 Test for short C - H (Angstrom Difference) XRAY: 0.96 NEUT 1.08

Large deviations from generally accepted values may indicate model problems, over refinement etc. Default C-H = 0.96 Ang. (X-Ray) value from SHELXL.

與一般可接受值相差較大可能意味著模型存在問題、過度精修等。默認(rèn)C-H鍵鍵長為0.96 ?，該值來自SHELXL內(nèi)嵌的(X射線)值。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT350.html)

警告原因：結(jié)構(gòu)中存在過短的C-H鍵。

解決策略：可用DFIX限制其鍵長，或?qū)⑵鋭h除后進(jìn)行理論加氫。

PLAT351 Type_3 Test for long C - H (Angstrom Difference) XRAY: 0.96 NEUT 1.08

Large deviations from generally accepted values may indicate model problems, over refinement etc. Default C-H = 0.96 Ang. (X-Ray) value from SHELXL.

與一般可接受值相差較大可能意味著模型存在問題、過度精修等。默認(rèn)C-H鍵鍵長為0.96 ?，該值來自SHELXL內(nèi)嵌的(X射線)值。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT351.html)

警告原因：結(jié)構(gòu)中存在過長的C-H鍵。

解決策略：可用DFIX限制其鍵長，或?qū)⑵鋭h除后進(jìn)行理論加氫。

PLAT352 Type_3 Test for short N - H (Angstrom Difference) XRAY: 0.87 NEUT 1.009

Large deviations from generally accepted values may indicate model problems, over refinement etc. Default N-H = 0.87 Ang. (X-Ray) value from SHELXL.

與一般可接受值相差較大可能意味著模型存在問題、過度精修等。默認(rèn)N-H鍵鍵長為0.87 ?，該值來自SHELXL內(nèi)嵌的(X射線)值。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT352.html)

警告原因：結(jié)構(gòu)中存在過短的N-H鍵。

解決策略：可用DFIX限制其鍵長，或?qū)⑵鋭h除后進(jìn)行理論加氫。

PLAT353 Type_3 Test for long N - H (Angstrom Difference) XRAY: 0.87 NEUT 1.009

Large deviations from generally accepted values may indicate model problems, over refinement etc. Default N-H = 0.87 Ang. (X-Ray) value from SHELXL.

與一般可接受值相差較大可能意味著模型存在問題、過度精修等。默認(rèn)N-H鍵鍵長為0.87 ?，該值來自SHELXL內(nèi)嵌的(X射線)值。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT353.html)

警告原因：結(jié)構(gòu)中存在過長的N-H鍵。

解決策略：可用DFIX限制其鍵長，或?qū)⑵鋭h除后進(jìn)行理論加氫。

PLAT354 Type_3 Test for short O - H (Angstrom Difference) XRAY: 0.82 NEUT 0.983

Large deviations from generally accepted values may indicate model problems, over refinement etc. Default O-H = 0.82 Ang. (X-Ray) value from SHELXL.

與一般可接受值相差較大可能意味著模型存在問題、過度精修等。默認(rèn)O-H鍵鍵長為0.82 ?，該值來自SHELXL內(nèi)嵌的(X射線)值。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT354.html)

例：PLAT354_ALERT_3_C Short O-H (X0.82, N0.98A) O19 - H19B

警告原因：O-H鍵鍵長過短。

解決策略：用DFIX將O-H鍵和N-H鍵限制成0.82和0.98。

PLAT355 Type_3 Test for long O - H (Angstrom Difference) XRAY: 0.82 NEUT 0.983

Large deviations from generally accepted values may indicate model problems, over refinement etc. Default O-H = 0.82 Ang. (X-Ray) value from SHELXL.

與一般可接受值相差較大可能意味著模型存在問題、過度精修等。默認(rèn)O-H鍵鍵長為0.82 ?，該值來自SHELXL內(nèi)嵌的(X射線)值。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT355.html)

警告原因：結(jié)構(gòu)中存在過長的O-H鍵。

解決策略：可用DFIX限制其鍵長，或?qū)⑵鋭h除后進(jìn)行理論加氫。

PLAT356 Type_3 Test for short B-H distance

A short B-H distance may be due to fixing that distance to a wrong value, e.g. to that of the C-H distance in a CH3 group.

過短的B-H鍵鍵長可能是由于將其固定為一個(gè)錯(cuò)誤值，例如將其固定為甲基中的C-H鍵鍵長。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT356html)

警告原因：結(jié)構(gòu)中存在過短的B-H鍵。

解決策略：可用DFIX限制其鍵長，或?qū)⑵鋭h除后進(jìn)行理論加氫。

PLAT357 Type_3 Test for long B-H distance

Check the long reported B-H bond distance (B-H is expected to have a value around 1.16 Ang in a BH3 group).

檢查報(bào)告的過長的B-H鍵鍵長(BH3基團(tuán)中B-H鍵鍵長預(yù)期值大約再1.16 ?)。

(http://journals.iucr.org/services/cif/checking/PLAT357.html)

警告原因：結(jié)構(gòu)中存在過長的B-H鍵。

解決策略：可用DFIX限制其鍵長，或?qū)⑵鋭h除后進(jìn)行理論加氫。