之前鑠思百小編介紹了AFM的原理，那么，就有很多小伙伴好奇，AFM的應(yīng)用有哪些呢？以及AFM測(cè)試的樣品需要做哪些處理呢？接下來(lái)就讓我們來(lái)了解這些問(wèn)題吧。

????????AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是應(yīng)用范圍廣，可用于表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙測(cè)定、顆粒度解析、突起與凹坑的統(tǒng)計(jì)處理、成膜條件評(píng)價(jià)、保護(hù)層的尺寸臺(tái)階測(cè)定、層間絕緣膜的平整度評(píng)價(jià)、VCD涂層評(píng)價(jià)、定向薄膜的摩擦處理過(guò)程的評(píng)價(jià)、缺陷分析等。原子力顯微鏡為掃描探針顯微鏡家族的一員，具有納米級(jí)的分辨能力，其操作容易簡(jiǎn)便，是目前研究納米科技和材料分析的最重要的工具之一。

????????AFM可得到高分辨率的表面形貌圖像，AFM 對(duì)表面整體圖像進(jìn)行分析可得到樣品表面的粗糙度、顆粒度、平均梯度、孔結(jié)構(gòu)和孔徑分布等參數(shù)，也可對(duì)樣品的形貌進(jìn)行豐富的三維模擬顯示，使圖像更適合于人的直觀視覺(jué)。廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲(chǔ)，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類科研和生產(chǎn)工作。

在鑠思百檢測(cè)做AFM檢測(cè)時(shí)，可做如下樣品類型及項(xiàng)目：

????????可做纖維/粉末/溶液/薄膜/納米片/生物蛋白：粗糙度、表面形貌、厚度、相圖、彈性模量、力曲線、PFM（壓電力顯微鏡）、KPFM（表面電勢(shì)）、C-AFM（導(dǎo)電力顯微鏡）、PeakForce TUNA（導(dǎo)電力顯微鏡）、EFM（靜電力顯微鏡）、MFM（磁力顯微鏡）、LFM（側(cè)向力顯微鏡）等。

對(duì)樣品有如下要求：

1，樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

2，粉末樣品：顆粒一般不超過(guò)5微米，提供20mg，液體不少于1ml，尺寸過(guò)大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理；

3，粉末/液體樣品請(qǐng)務(wù)必備注好制樣條件，包括分散液，超聲時(shí)間及配制濃度；

4，薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長(zhǎng)寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過(guò)5um，一定要標(biāo)明測(cè)試面！

5，測(cè)試壓電、表面電勢(shì)的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上，基底大小大于0.5*0.5cm。

6，AFM制樣對(duì)樣品導(dǎo)電與否沒(méi)有要求，可以很平也可以不那么平，對(duì)表面光潔度有一定要求，測(cè)量范圍比較廣泛。

7，適用于多種環(huán)境，可在真空，空氣和溶液中進(jìn)行。

以上就是本次AFM的小知識(shí)啦，如果有更多問(wèn)題，可以網(wǎng)絡(luò)聯(lián)系鑠思百檢測(cè)檢測(cè)工程師，

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